Nanometrologi
Nanometrologi adalah sebuah subbidang dari metrologi, yang berkaitan dengan ilmu pengukuran pada tingkat skala nano. Nanometrologi memiliki peran penting dalam menghasilkan nanomaterial dan perangkat dengan tingkat akurasi dan keandalan tinggi dalam nanomanufaktur.
Referensi sunting
- ^ "Programs of the Manufacturing Engineering Laboratory" (PDF). U.S. National Institute of Standards and Technology. March 2008. Diarsipkan dari versi asli (PDF) tanggal 2010-04-01. Diakses tanggal 2009-07-04. Templat:PD-inline
Referensi umum sunting
- Whitehouse, David J. (2011). Handbook of surface and nanometrology. CRC Press. ISBN 9781420082012. OCLC 703152969.
- Schulte, Jürgen (2005). Nanotechnology: global strategies, industry trends and applications. Wiley. ISBN 9780470854006. OCLC 56733161.
- "Eighth Nanoforum Report: Nanometrology" (PDF). Nanoforum. July 2006.
- Aliofkhazraei, Mahmood; Rouhaghdam, Alireza Sabour (2010). "Synthesis and Processing of Nanostructured Films, and Introduction to and Comparison with Plasma Electrolysis" (PDF). Fabrication of nanostructures by plasma electrolysis. Wiley-VCH. ISBN 9783527326754. OCLC 676709104.